我们生产的探头用于测量晶圆电阻率以及导电薄膜电阻率。所有探头组件 （主体、布线和针）都在我们工厂自己的高精密定制设备上生产，然后在工厂内部进行组装和测试。机械精度（针尖大小、针间距、共线性等规格）经过影像投影仪和进行检测，针尖负载由电子测力计验证且每根探针都配备宝石导针装置。
2026/02/05
在柔性OLED器件的研究与制造过程中，透明电极的性能直接决定了器件的效率与可靠性。为准确评估电极的导电性能，四探针测试法因其高精度、非破坏
2025/09/19
电阻率的测试方法多样，应根据材料的维度（如块体、薄膜、低维结构）、形状及电学特性选择合适的测量方法。在低维半导体材料与器件的研发和生
