我们生产的探头用于测量晶圆电阻率以及导电薄膜电阻率。所有探头组件 （主体、布线和针）都在我们工厂自己的高精密定制设备上生产，然后在工厂内部进行组装和测试。机械精度（针尖大小、针间距、共线性等规格）经过影像投影仪和进行检测，针尖负载由电子测力计验证且每根探针都配备宝石导针装置。
2026/04/16
随着集成电路特征尺寸的持续缩小，互连电阻增大导致信号延迟和功耗上升，已成为半导体行业面临的主要挑战之一。钴作为铜的潜在替代金属，其体
2026/04/09
深紫外光谱探微与四探针方阻仪实测：先进封装异质结构金属污染的光电协同评估
在先进半导体封装系统中，复杂异质结构中的金属污染物对物理性能和设备表现具有决定性影响。特别是在铝焊盘上的聚酰亚胺通孔和聚酰亚胺上的铜
2026/04/02
四探针方阻仪高精度表征：铟镓锌氧化物/银/铟镓锌氧化物多层膜的光电性能
在光电器件行业中，透明导电氧化物扮演着至关重要的角色，它既是电荷传输的关键电极，也是光线进入吸收层的光学窗口。为了最大程度地减少寄生
