主要特点
◇ 具有一流动态性能的优质探头
◇ 高精度、出色的重复性
◇ 严格的质量控制和质量保证方法
◇ 短期交付
我们生产的探头用于测量晶圆电阻率以及导电薄膜电阻率。所有探头组件 (主体、布线和针)都在我们工厂自己的高精密定制设备上生产,然后在工厂内部进行组装和测试。机械精度(针尖大小、针间距、共线性等规格)经过影像投影仪和进行检测,针尖负载由电子测力计验证且每根探针都配备宝石导针装置。
2025/09/19
低维半导体器件电阻率的测试方法
电阻率的测试方法多样,应根据材料的维度(如块体、薄膜、低维结构)、形状及电学特性选择合适的测量方法。在低维半导体材料与器件的研发和生
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