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半导体晶圆在线方阻测试
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主要特点

◇ 适合12寸晶圆芯片制造;

◇ 两个FIMSloadport;

◇ 双探头切换,适合不同应用场景,避免探头直接沾污;

◇ 控温载片台, 超大升温区间 ,实现超小TCR系数测量(可选配);

◇ 硅片厚度原位测量(可选配置);

◇ 可选配SECS/GEM厂务通讯协议。

产品描述 下载

◇ 测量范围跨越13个数量级;
◇ 满足各类工艺节点要求;
◇ 下针高度自动控制,自动清针组合;
◇ 基于Fab全自动机台量测性能设计;
◇ 对标KLA机台,满足金属、离子注入、外延等各类高要求测量。

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